標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T12085.6-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第6部分:砂塵,規(guī)定了砂塵試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。砂塵試驗(yàn)箱適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件等,試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、機(jī)械學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到砂塵影響的變化程度,特別是研究運(yùn)動(dòng)部件(如滑動(dòng)面、軸承、接觸器、控制裝置、齒輪)的故障或不能允許的表面磨損。注意,本試驗(yàn)不用來確定對(duì)粗粒砂塵的耐磨性。 標(biāo)準(zhǔn)中明確講述了文件條款通過GT/T12085部分的引用而成為本部分的條款,凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T12085.1 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第一部分:術(shù)語、試驗(yàn)范圍(GB/T 12085.1—2010,ISO 9022-1:1994,MOD) |